ANALYSER ET MESURER A L’ ECHELLE DE LA NANOSTRUCTURE INDIVIDUELLE
Christian COLLIEX (Laboratoire de Physique des Solides, Université Paris Sud)

Infos Complémentaires

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Enregistrement audiovisuel sur le site ENS - Savoirs en multimédia

Salle 236, 29 rue d’Ulm - 13h30

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Jeudi 22 octobre

De nouvelles techniques de synthèse permettent d’élaborer une
grande diversité de matériaux et de structures dont les briques élémentaires
sont à l’échelle du nanomètre. Connaître l’architecture atomique, la composition
détaillée et les propriétés électroniques et optiques de ces nouveaux objets
de synthèse à l’échelle la plus fine possible est indispensable pour comprendre la
relation entre leur synthèse et leurs propriétés fonctionnelles. Dans une colonne
de microscope électronique, l’analyse point par point de l’échantillon avec un
faisceau très fin d’électrons primaires (diamètre de l’ordre de 1 Angström)
et la mesure de sa réponse spectrale (spectroscopie de pertes d’énergie EELS
avec une résolution de l’ordre de 0.2eV sur une vaste gamme spectrale de
l’eV au keV) permettent l’étude de ces nouveaux matériaux à l’échelle de la
nanostructure ou du défaut individuel. Ceci sera illustré par la cartographie
à l’échelle atomique des différentes colonnes et de leurs liaisons de part et
d’autre d’une interface métal-oxyde ou oxyde-oxyde et par la cartographie
des propriétés optiques de nanoparticules métalliques individuelles ou en interactions.
En associant ces techniques ultimes de caractérisation avec une
approche interactive entre l’observateur et l’échantillon situé dans un porteobjet
in situ spécialement conçu pour exercer des contraintes extérieures, la
voie est désormais ouverte à la réalisation et à l’utilisation du nano-laboratoire
fonctionnel.

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